Ідентифікація країни походження безпілотних літальних апаратів на підставі аналізу елементної бази за методом сканівної електронної мікроскопії
DOI:
https://doi.org/10.34169/2414-0651.2023.1(37).57-62Ключові слова:
БПЛА, рентгенівський мікроаналіз, склад матеріалу, фрагмент електронного компонентуАнотація
У статті представлено результати дослідження методом растрової електронної мікроскопії мікроструктурних характеристик припоїв, що були використані під час виготовлення електронних компонентів крилатих ракет Х-101, 3М-14 комплексу «Калібр», зенітної ракети комплексу С-300, БПЛА «Герань-2» та електроніки цивільного призначення, виготовленої в ісламській республіці Іран з метою ідентифікації країни походження ударних безпілотних літальних апаратів.
Наведено аналіз результатів складових елементів фрагментів електронних компонентів, виготовлених із різних за походженням матеріалів, отриманих в ході апаратних досліджень із застосуванням скануючого електронного мікроскопу JSM-6490LV з енергодисперсійним спектрометром INKA Energy 350ХТ.
Завантаження
Посилання
Богданов В.Л., Григоренко О.Я., Чепков І.Б., Одноралов І.В., Кременицький В.В., Сперкач С.О., Трачевський В.С. Аналіз фізико-хімічних властивостей металевих фрагментів корпусів артилерійських снарядів на основі експериментального підходу. Озброєння та військова техніка. 2022. № 1(33). С. 43—56. https://doi.org/1034169/2414-0651.2022.1(33).43-56.
Черепин В.Т., Васильев М.А. Методы и приборы для анализа поверхности материалов. Справочник. Киев: Наукова думка. 1982.
Шиммель Г. Методика электронной микроскопии. М.: Мир. 1972.
Голдстейн Дж., Ньюбери Д. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. М.: Мир. 1984. 303 с.
Weilie Zhou. (2006). Scanning Microscopy for Nanotechnology (Techniques and Applications). Weilie Zhou (ed.) Zhong Lin Wang (Ed.) Springer. 522 p.
Брандон Д., Каплан У. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля. М.: Техносфера. 2004. 384 с.
Georg Frosch. (2003). Microanalysis with EDS, WDS & EBSD Possibilities and Restrictions Oxford Instruments Analytical.
Kirkland, Earl. (2010). Advanced computing in electron microscopy. New York: Springer. 289 р. DOI: https://doi.org/10.1007/978-1-4419-6533-2
Downloads
Опубліковано
Як цитувати
Номер
Розділ
Ліцензія
Авторське право (c) 2023 В’ячеслав Богданов,Олександр Григоренко ,Ігор Чепков ,Ігор Одноралов,Валерій Кременицький ,Світлана Сперкач

Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution 4.0 International License.