ВИЗНАЧЕННЯ ХІМІЧНОГО СКЛАДУ, СТРУКТУРИ ТА  ТОПОГРАФІЇ КОМПОЗИЦІЙНИХ МАТЕРІАЛІВ КОРПУСУ ПЛАНЕРУ БАРАЖУЮЧОГО БОЄПРИПАСУ «SHAHED-136» МЕТОДОМ СКАНУЮЧОЇ ЕЛЕКТРОННОЇ МІКРОСКОПІЇ

В’ячеслав Богданов; Олександр Григоренко; Ігор Чепков; Ігор Одноралов; Андрій Кучинський; Валерій Кременицький; Світлана Сперкач

doi:10.34169/2414-0651.2023.4(40).53-61

ВИЗНАЧЕННЯ ХІМІЧНОГО СКЛАДУ, СТРУКТУРИ ТА ТОПОГРАФІЇ КОМПОЗИЦІЙНИХ МАТЕРІАЛІВ КОРПУСУ ПЛАНЕРУ БАРАЖУЮЧОГО БОЄПРИПАСУ «SHAHED-136» МЕТОДОМ СКАНУЮЧОЇ ЕЛЕКТРОННОЇ МІКРОСКОПІЇ

Автор(и)

В’ячеслав Богданов Інститут механіки ім. С.П. Тимошенка НАН України
Олександр Григоренко Інститут механіки ім. С.П. Тимошенка НАН України
Ігор Чепков Центральний науково-дослідний інститут озброєння та військової техніки Збройних Сил України
Ігор Одноралов Центральний науково-дослідний інститут озброєння та військової техніки Збройних Сил України
Андрій Кучинський Центральний науково-дослідний інститут озброєння та військової техніки Збройних Сил України https://orcid.org/0000-0002-1687-9393
Валерій Кременицький Технічний центр НАН України
Світлана Сперкач Технічний центр НАН України

DOI:

https://doi.org/10.34169/2414-0651.2023.4(40).53-61

Ключові слова:

БПЛА, рентгенівський мікроаналіз, склад матеріалу, структура, топографія поверхні

Анотація

У статті представлено результати дослідження мікроструктурних характеристик матеріалів планеру, що використовуються під час виготовлення баражуючого боєприпасу «Shahed-136» із застосуванням методу скануючої електронної мікроскопії. Наведено результати аналізу складу та структури складових елементів фрагментів планеру БПЛА «Shahed-136», виготовлених із різних матеріалів, які отримані під час проведення апаратних досліджень із застосуванням рентгенівського мікроаналізатору JXA-8200 виробництва JEOL Ltd (Японія) та скануючого електронного мікроскопу JSM-6490LV з енергодисперсійним спектрометром INKA Energy 350ХТ.

Дослідження проводились з метою формування інформаційної бази для розроблення алгоритмів виявлення та систем протидії баражуючим боєприпасам.

Завантаження

Дані завантаження ще не доступні.

Біографії авторів

В’ячеслав Богданов , Інститут механіки ім. С.П. Тимошенка НАН України

академік НАН України, доктор фізико-математичних наук

Олександр Григоренко , Інститут механіки ім. С.П. Тимошенка НАН України

член-кореспондент НАН України, доктор фізико-математичних наук, професор

Ігор Чепков , Центральний науково-дослідний інститут озброєння та військової техніки Збройних Сил України

доктор технічних наук, професор

Ігор Одноралов , Центральний науково-дослідний інститут озброєння та військової техніки Збройних Сил України

доктор технічних наук, старший науковий співробітник

Андрій Кучинський , Центральний науково-дослідний інститут озброєння та військової техніки Збройних Сил України

кандидат технічних наук, старший науковий співробітник, докторант

Валерій Кременицький , Технічний центр НАН України

кандидат фізико-математичних наук

Посилання

Богданов В.Л., Григоренко О.Я., Чепков І.Б., Одноралов І.В., Кременицький В.В., Сперкач С.О. Ідентифікація країни походження безпілотних літальних апаратів на підставі аналізу елементної бази за методом сканівної електронної мікроскопії. Озброєння та військова техніка. Київ: Центральний науково-дослідний інститут озброєння та військової техніки Збройних Сил України. 2023. № 1(37). С. 57—62. https://doi.org/1034169/2414-0651.2023.1(37).57-62.

Богданов В.Л., Григоренко О.Я., Чепков І.Б., Одноралов І.В., Кременицький В.В., Сперкач С.О., Трачевський В.С. Аналіз фізико-хімічних властивостей металевих фрагментів корпусів артилерійських снарядів на основі експериментального підходу. Озброєння та військова техніка. Київ: Центральний науково-дослідний інститут озброєння та військової техніки Збройних Сил України. 2022. № 1(33). С. 43—56. https://doi.org/1034169/2414-0651.2022.1(33).43-56.

Богданов В.Л., Григоренко О.Я., Чепков І.Б., Одноралов І.В., Кучинський А.В., Кременицький В.В., Сперкач С.О. Застосування методу скануючої електронної мікроскопії при визначенні хімічного складу металевих фрагментів крилатих та авіаційних ракет виробництва російської федерації. Озброєння та військова техніка. Київ: Центральний науково-дослідний інститут озброєння та військової техніки Збройних Сил України. 2023. № 2(38). С. 18—25. https://doi.org/1034169/2414-0651.2023.2(38).18-25.

Богданов В.Л., Григоренко О.Я., Чепков І.Б., Одноралов І.В., Кучинський А.В., Кременицький В.В., Сперкач С.О. Застосування методу скануючої електронної мікроскопії при визначенні хімічного складу, структури та топографії поверхні композитних матеріалів фрагментів крилатих ракет виробництва російської федерації. Озброєння та військова техніка. Київ: Центральний науково-дослідний інститут озброєння та військової техніки Збройних Сил України. 2023. № 3(39). С. 36—48. https://doi.org/1034169/2414-0651.2023.3(39).36-48.

Голдстейн Дж., Ньюбери Д. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. М.: Мир. 1984. 303 с.

Weilie Zhou & Zhong Lin Wang. (2006). Scanning Microscopy for Nanotechnology (Techniques and Applications). Springer. 522 p.

Downloads

Опубліковано

31.12.2023

Як цитувати

Богданов , В., Григоренко , О., Чепков , І., Одноралов , І., Кучинський , А., Кременицький , В., & Сперкач , С. (2023). ВИЗНАЧЕННЯ ХІМІЧНОГО СКЛАДУ, СТРУКТУРИ ТА ТОПОГРАФІЇ КОМПОЗИЦІЙНИХ МАТЕРІАЛІВ КОРПУСУ ПЛАНЕРУ БАРАЖУЮЧОГО БОЄПРИПАСУ «SHAHED-136» МЕТОДОМ СКАНУЮЧОЇ ЕЛЕКТРОННОЇ МІКРОСКОПІЇ. Озброєння та військова техніка, 40(4), 53–61. https://doi.org/10.34169/2414-0651.2023.4(40).53-61