Особливості хімічного складу, структури та топографії композиційних матеріалів корпусу планера модернізованого баражуючого боєприпасу «SHAHED-136» (чорного)
DOI:
https://doi.org/10.34169/2414-0651.2024.1(41).75-81Ключові слова:
БПЛА, рентгенівський мікроаналіз, склад матеріалу, структура, топографія поверхніАнотація
У статті представлено результати дослідження мікроструктурних характеристик композиційних матеріалів корпусу планера, які використовуються під час виготовлення модернізованого баражуючого боєприпасу «Shahed-136» із застосуванням методу скануючої електронної мікроскопії. Наведено результати аналізу складу та структури складових елементів фрагментів планера БПЛА «Shahed-136» (чорного), виготовлених із композитних матеріалів, які отримані під час проведення апаратних досліджень із застосуванням рентгенівського мікроаналізатору JXA-8200 виробництва JEOL Ltd (Японія) та скануючого електронного мікроскопу JSM-6490LV з енергодисперсійним спектрометром INKA Energy 350ХТ.
Дослідження проводились з метою формування інформаційної бази для розроблення алгоритмів виявлення та систем протидії баражуючим боєприпасам.
Завантаження
Посилання
Ідентифікація країни походження безпілотних літальних апаратів на підставі аналізу елементної бази за методом сканівної електронної мікроскопії / Богданов В.Л., Григоренко О.Я., Чепков І.Б., Одноралов І.В., Кременицький В.В., Сперкач С.О. Озброєння та військова техніка. Київ: Центральний науково дослідний інститут озброєння та військової техніки Збройних Сил України. 2023. № 1(37). С. 57—62.
https://doi.org/10.34169/2414-0651.2023.1(37).57-62
Визначення хімічного складу, структури та топографії композиційних матеріалів корпусу планера баражуючого боєприпасу «Shahed-136» методом скануючої електронної мікроскопії / Богданов В.Л., Григоренко О.Я., Чепков І.Б., Одноралов І.В., Кучинський А.В., Кременицький В.В., Сперкач С.О. Озброєння та військова техніка. Київ: Центральний науково дослідний інститут озброєння та військової техніки Збройних Сил України. 2023. № 4(40). С. 53—61.
https://doi.org/10.34169/2414-0651.2023.4(40).53-61
Застосування методу скануючої електронної мікроскопії при визначенні хімічного складу металевих фрагментів крилатих та авіаційних ракет виробництва російської федерації / Богданов В.Л., Григоренко О.Я., Чепков І.Б., Одноралов І.В., Кучинський А.В., Кременицький В.В., Сперкач С.О. Озброєння та військова техніка. Київ: Центральний науково дослідний інститут озброєння та військової техніки Збройних Сил України. 2023. № 2(38). С. 18—25.
https://doi.org/10.34169/2414-0651.2023.2(38).18-25
Застосування методу скануючої електронної мікроскопії при визначенні хімічного складу, структури та топографії поверхні композитних матеріалів фрагментів крилатих ракет виробництва російської федерації / Богданов В.Л., Григоренко О.Я., Чепков І.Б., Одноралов І.В., Кучинський А.В., Кременицький В.В., Сперкач С.О. Озброєння та військова техніка. Київ: Центральний науково дослідний інститут озброєння та військової техніки Збройних Сил України. 2023. № 3(39). С. 36—48.
https://doi.org/10.34169/2414-0651.2023.3(39).36-48
Голдстейн, Дж., Ньюбери, Д. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. М.: Мир. 1984. 303 с.
Weilie Zhou. Scanning Microscopy for Nanotechnology (Techniques and Applications); Weilie Zhou (Ed.), Zhong Lin Wang (Ed.). Springer. 2006. 522 p.
Буланов И.М., Воробей В.В. Технология ракетных и ракетно-космических конструкций из композиционных материалов. М.: МГТУ им. Н. Э. Баумана. 1998. 516 с.
Downloads
Опубліковано
Як цитувати
Номер
Розділ
Ліцензія
Авторське право (c) 2024 В’ячеслав Богданов,Олександр Григоренко,Ігор Чепков,Ігор Одноралов,Андрій Кучинський,Валерій Кременицький,Світлана Сперкач

Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution 4.0 International License.