ЗАСТОСУВАННЯ МЕТОДУ СКАНУЮЧОЇ ЕЛЕКТРОННОЇ МІКРОСКОПІЇ ПРИ ВИЗНАЧЕННІ ХІМІЧНОГО СКЛАДУ МЕТАЛЕВИХ ФРАГМЕНТІВ КРИЛАТИХ ТА АВІАЦІЙНИХ РАКЕТ ВИРОБНИЦТВА РОСІЙСЬКОЇ ФЕДЕРАЦІЇ

В’ячеслав Богданов; Олександр Григоренко; Ігор Чепков; Ігор Одноралов; Андрій Кучинський; Валерій Кременицький; Світлана Сперкач

doi:10.34169/2414-0651.2023.2(38).18-25

ЗАСТОСУВАННЯ МЕТОДУ СКАНУЮЧОЇ ЕЛЕКТРОННОЇ МІКРОСКОПІЇ ПРИ ВИЗНАЧЕННІ ХІМІЧНОГО СКЛАДУ МЕТАЛЕВИХ ФРАГМЕНТІВ КРИЛАТИХ ТА АВІАЦІЙНИХ РАКЕТ ВИРОБНИЦТВА РОСІЙСЬКОЇ ФЕДЕРАЦІЇ

Автор(и)

В’ячеслав Богданов Інститут механіки ім. С.П. Тимошенка НАН України
Олександр Григоренко Інститут механіки ім. С.П. Тимошенка НАН України
Ігор Чепков Центральний науково-дослідний інститут озброєння та військової техніки Збройних Сил України
Ігор Одноралов Центральний науково-дослідний інститут озброєння та військової техніки Збройних Сил України
Андрій Кучинський Центральний науково-дослідний інститут озброєння та військової техніки Збройних Сил України https://orcid.org/0000-0002-1687-9393
Валерій Кременицький Технічний центр НАН України
Світлана Сперкач Технічний центр НАН України

DOI:

https://doi.org/10.34169/2414-0651.2023.2(38).18-25

Ключові слова:

крилаті та авіаційні ракети, рентгенівський мікроаналіз, склад матеріалу, структура, топографія поверхні

Анотація

У статті представлено результати застосування скануючої електронної мікроскопії для дослідження хімічного складу та мікроструктурних характеристик металів, що були використані для виготовлення складових крилатих та авіаційних ракет країни-агресора. Представлено математичну модель генерації сигналу при застосуванні методу скануючої електронної мікроскопії.

Наведено аналіз результатів дослідження металевих фрагментів крилатих та авіаційних ракет, отриманих у ході апаратних досліджень із застосуванням рентгенівського мікроаналізатору JXA-8200 виробництва JEOL Ltd (Японія) та скануючого електронного мікроскопу JSM-6490LV з енергодисперсійним спектрометром INKA Energy 350ХТ.

Завантаження

Дані завантаження ще не доступні.

Біографії авторів

В’ячеслав Богданов, Інститут механіки ім. С.П. Тимошенка НАН України

академік НАН України, доктор фізико-математичних наук

Олександр Григоренко , Інститут механіки ім. С.П. Тимошенка НАН України

член-кореспондент НАН України, доктор фізико-математичних наук, професор

Ігор Чепков, Центральний науково-дослідний інститут озброєння та військової техніки Збройних Сил України

доктор технічних наук, професор

Ігор Одноралов, Центральний науково-дослідний інститут озброєння та військової техніки Збройних Сил України

доктор технічних наук

Андрій Кучинський, Центральний науково-дослідний інститут озброєння та військової техніки Збройних Сил України

кандидат технічних наук

Валерій Кременицький , Технічний центр НАН України

кандидат фізико-математичних наук

Світлана Сперкач , Технічний центр НАН України

кандидат фізико-математичних наук

Посилання

Ідентифікація країни походження безпілотних літальних апаратів на підставі аналізу елементної бази за методом сканівної електронної мікроскопії / В.Л. Богданов, О.Я. Григоренко, І.Б. Чепков, І.В. Одноралов, В.В. Кременицький, С.О. Сперкач. Озброєння та військова техніка. Київ: ЦНДІ ОВТ ЗСУ. 2023. № 1(37). С. 57—62. https://doi.org/1034169/2414-0651.2023.1(37).57-62.

Аналіз фізико-хімічних властивостей металевих фрагментів корпусів артилерійських снарядів на основі експериментального підходу / В.Л. Богданов, О.Я. Григоренко, І.Б. Чепков, І.В. Одноралов, В.В. Кременицький, С.О. Сперкач, В.С. Трачевський. Озброєння та військова техніка. 2022. № 1(33). С. 43—56. https://doi.org/1034169/2414-0651.2022.1(33).43-56.

Tikhonov, A.N. & Arsenin, V.Ya. (1986). Methods of solving incorrect problems. M.: Nauka.

Kirkland, Earl. (2010). Advanced computing in electron microscopy. New York: Springer. 287 p. DOI: https://doi.org/10.1007/978-1-4419-6533-2

Georg, Frosch. (2003). Microanalysis with EDS, WDS & EBSD Possibilities and Restrictions Oxford Instruments Analytical.

Downloads

Опубліковано

30.06.2023

Як цитувати

Богданов, В., Григоренко , О., Чепков, І., Одноралов, І., Кучинський, А., Кременицький , В., & Сперкач , С. (2023). ЗАСТОСУВАННЯ МЕТОДУ СКАНУЮЧОЇ ЕЛЕКТРОННОЇ МІКРОСКОПІЇ ПРИ ВИЗНАЧЕННІ ХІМІЧНОГО СКЛАДУ МЕТАЛЕВИХ ФРАГМЕНТІВ КРИЛАТИХ ТА АВІАЦІЙНИХ РАКЕТ ВИРОБНИЦТВА РОСІЙСЬКОЇ ФЕДЕРАЦІЇ . Озброєння та військова техніка, 38(2), 18–25. https://doi.org/10.34169/2414-0651.2023.2(38).18-25