ЗАСТОСУВАННЯ МЕТОДУ СКАНУЮЧОЇ ЕЛЕКТРОННОЇ МІКРОСКОПІЇ ПРИ ВИЗНАЧЕННІ ХІМІЧНОГО СКЛАДУ МЕТАЛЕВИХ ФРАГМЕНТІВ КРИЛАТИХ ТА АВІАЦІЙНИХ РАКЕТ ВИРОБНИЦТВА РОСІЙСЬКОЇ ФЕДЕРАЦІЇ

Автор(и)
DOI:
https://doi.org/10.34169/2414-0651.2023.2(38).18-25
Ключові слова:
Array, Array, Array, Array, Array
Анотація

У статті представлено результати застосування скануючої електронної мікроскопії для дослідження хімічного складу та мікроструктурних характеристик металів, що були використані для виготовлення складових крилатих та авіаційних ракет країни-агресора. Представлено математичну модель генерації сигналу при застосуванні методу скануючої електронної мікроскопії.

Наведено аналіз результатів дослідження металевих фрагментів крилатих та авіаційних ракет, отриманих у ході апаратних досліджень із застосуванням рентгенівського мікроаналізатору JXA-8200 виробництва JEOL Ltd (Японія) та скануючого електронного мікроскопу JSM-6490LV з енергодисперсійним спектрометром INKA Energy 350ХТ.

Біографії авторів
  1. автор В’ячеслав Богданов, афіліація Інститут механіки ім. С.П. Тимошенка НАН України

    академік НАН України, доктор фізико-математичних наук

     

  2. автор Олександр Григоренко , афіліація Інститут механіки ім. С.П. Тимошенка НАН України

    член-кореспондент НАН України, доктор фізико-математичних наук, професор

  3. автор Ігор Чепков, афіліація Центральний науково-дослідний інститут озброєння та військової техніки Збройних Сил України

    доктор технічних наук, професор

     

  4. автор Ігор Одноралов, афіліація Центральний науково-дослідний інститут озброєння та військової техніки Збройних Сил України

    доктор технічних наук

     

  5. автор Андрій Кучинський, афіліація Центральний науково-дослідний інститут озброєння та військової техніки Збройних Сил України

    кандидат технічних наук

     

  6. автор Валерій Кременицький , афіліація Технічний центр НАН України

    кандидат фізико-математичних наук  

     

  7. автор Світлана Сперкач , афіліація Технічний центр НАН України

    кандидат фізико-математичних наук

     

Посилання

Ідентифікація країни походження безпілотних літальних апаратів на підставі аналізу елементної бази за методом сканівної електронної мікроскопії / В.Л. Богданов, О.Я. Григоренко, І.Б. Чепков, І.В. Одноралов, В.В. Кременицький, С.О. Сперкач. Озброєння та військова техніка. Київ: ЦНДІ ОВТ ЗСУ. 2023. № 1(37). С. 57—62. https://doi.org/1034169/2414-0651.2023.1(37).57-62.

Аналіз фізико-хімічних властивостей металевих фрагментів корпусів артилерійських снарядів на основі експериментального підходу / В.Л. Богданов, О.Я. Григоренко, І.Б. Чепков, І.В. Одноралов, В.В. Кременицький, С.О. Сперкач, В.С. Трачевський. Озброєння та військова техніка. 2022. № 1(33). С. 43—56. https://doi.org/1034169/2414-0651.2022.1(33).43-56.

Tikhonov, A.N. & Arsenin, V.Ya. (1986). Methods of solving incorrect problems. M.: Nauka.

Kirkland, Earl. (2010). Advanced computing in electron microscopy. New York: Springer. 287 p. DOI: https://doi.org/10.1007/978-1-4419-6533-2

Georg, Frosch. (2003). Microanalysis with EDS, WDS & EBSD Possibilities and Restrictions Oxford Instruments Analytical.

Cover Image
Завантаження
Опубліковано
30.06.2023
Номер
Том 38 № 2 (2023): Озброєння та військова техніка
Розділ
РАКЕТНІ КОМПЛЕКСИ
Ліцензія

Авторське право (c) 2023 В’ячеслав Богданов;Олександр Григоренко ,Ігор Чепков,Ігор Одноралов,Андрій Кучинський,Валерій Кременицький ,Світлана Сперкач

Creative Commons License

Ця робота ліцензується відповідно до ліцензії Creative Commons Attribution 4.0 International License.

Як цитувати

ЗАСТОСУВАННЯ МЕТОДУ СКАНУЮЧОЇ ЕЛЕКТРОННОЇ МІКРОСКОПІЇ ПРИ ВИЗНАЧЕННІ ХІМІЧНОГО СКЛАДУ МЕТАЛЕВИХ ФРАГМЕНТІВ КРИЛАТИХ ТА АВІАЦІЙНИХ РАКЕТ ВИРОБНИЦТВА РОСІЙСЬКОЇ ФЕДЕРАЦІЇ . (2023). Озброєння та військова техніка, 38(2), 18-25. https://doi.org/10.34169/2414-0651.2023.2(38).18-25

Статті цього автора (цих авторів), які найбільше читають

<< < 1 2 3