ЗАСТОСУВАННЯ МЕТОДУ СКАНУЮЧОЇ ЕЛЕКТРОННОЇ МІКРОСКОПІЇ ПРИ ВИЗНАЧЕННІ ХІМІЧНОГО СКЛАДУ, СТРУКТУРИ ТА ТОПОГРАФІЇ ПОВЕРХНІ КОМПОЗИТНИХ МАТЕРІАЛІВ ФРАГМЕНТІВ КРИЛАТИХ РАКЕТ ВИРОБНИЦТВА РОСІЙСЬКОЇ ФЕДЕРАЦІЇ

ЗАСТОСУВАННЯ МЕТОДУ СКАНУЮЧОЇ ЕЛЕКТРОННОЇ МІКРОСКОПІЇ ПРИ ВИЗНАЧЕННІ ХІМІЧНОГО СКЛАДУ, СТРУКТУРИ ТА ТОПОГРАФІЇ ПОВЕРХНІ КОМПОЗИТНИХ МАТЕРІАЛІВ ФРАГМЕНТІВ КРИЛАТИХ РАКЕТ ВИРОБНИЦТВА РОСІЙСЬКОЇ ФЕДЕРАЦІЇ

Автор(и)

  • В’ячеслав Богданов Інститут механіки ім. С.П. Тимошенка НАН України
  • Олександр Григоренко Інститут механіки ім. С.П. Тимошенка НАН України
  • Ігор Чепков Центральний науково-дослідний інститут озброєння та військової техніки Збройних Сил України
  • Ігор Одноралов Центральний науково-дослідний інститут озброєння та військової техніки Збройних Сил України
  • Андрій Кучинський Центральний науково-дослідний інститут озброєння та військової техніки Збройних Сил України https://orcid.org/0000-0002-1687-9393
  • Валерій Кременицький Технічний центр НАН України
  • Світлана Сперкач Технічний центр НАН України

DOI:

https://doi.org/10.34169/2414-0651.2023.3(39).36-48

Ключові слова:

композитні матеріали, крилаті ракети, рентгенівський мікроаналіз, склад матеріалу, структура, топографія поверхні

Анотація

У статті представлено аналіз сучасних композитних матеріалів, що застосовуються при створенні ракетного озброєння та результати застосування методу скануючої електронної мікроскопії під час дослідження хімічного складу, структури та топографії поверхні композитних матеріалів фрагментів крилатих ракет виробництва російської федерації. Зокрема, фрагментів крила ракети, фрагментів покриттів корпусу, передньої кромки крила, носового обтічника крилатої ракети.

Завантаження

Дані завантаження ще не доступні.

Біографії авторів

В’ячеслав Богданов, Інститут механіки ім. С.П. Тимошенка НАН України

академік НАН України, доктор фізико-математичних наук

Олександр Григоренко , Інститут механіки ім. С.П. Тимошенка НАН України

член-кореспондент НАН України, доктор фізико-математичних наук, професор

Ігор Чепков, Центральний науково-дослідний інститут озброєння та військової техніки Збройних Сил України

доктор технічних наук, професор

Ігор Одноралов, Центральний науково-дослідний інститут озброєння та військової техніки Збройних Сил України

доктор технічних наук

Андрій Кучинський, Центральний науково-дослідний інститут озброєння та військової техніки Збройних Сил України

кандидат технічних наук

Валерій Кременицький , Технічний центр НАН України

кандидат фізико-математичних наук

Світлана Сперкач , Технічний центр НАН України

кандидат фізико-математичних наук

Посилання

Вашуков Ю.А. Технология ракетных и аэрокосмических конструкций из композитных материалов. Мультимедийный образовательный модуль. [Электронный ресурс]. Минобрнауки росиии. Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева (Нац. исслед. ун-т). Самара. 2012. Электрон. текстовые и граф. дан. (3766 Кбайт, печатный аналог 185 с.).

Буланов И.М., Воробей В.В. Технология ракетных и аэрокосмических конструкций из композиционных материалов: пособие для вузов. М.: МГТУ им. Э. Баумана. 1998. 516 с.

Технология изготовления обтекателей из композиционных материалов / В.В. Василенко, Я.С. Карпов, С.П. Кривенда, М.Ю. Русин, М.А. Шевцова. Учеб. пособ. Харьков: Нац. аэрокосм. ун-т «Харьк. авиац. ин-т». 2005. 48 с.

Ідентифікація країни походження безпілотних літальних апаратів на підставі аналізу елементної бази за методом сканівної електронної мікроскопії / Богданов В.Л., Григоренко О.Я., Чепков І.Б., Одноралов І.В., Кременицький В.В., Сперкач С.О. Озброєння та військова техніка. 2023. № 1(37). С. 57—62. https://doi.org/1034169/2414-0651.2023.1(37).57-62.

Аналіз фізико-хімічних властивостей металевих фрагментів корпусів артилерійських снарядів на основі експериментального підходу / Богданов В.Л., О.Я. Григоренко, І.Б. Чепков, І. В. Одноралов, В.В. Кременицький, С.О. Сперкач, Трачевський В.В. Озброєння та військова техніка. 2022. № 1(33). С. 43—56. https://doi.org/1034169/2414-0651.2022.1(33).43-56.

Kirkland, Earl. (2010). Advanced computing in electron microscopy. New York: Springer. 287 p. DOI: https://doi.org/10.1007/978-1-4419-6533-2

Georg, Frosch. (2003). Microanalysis with EDS, WDS & EBSD Possibilities and Restrictions Oxford Instruments Analytical.

Downloads

Опубліковано

30.09.2023

Як цитувати

Богданов, В., Григоренко , О., Чепков, І., Одноралов, І., Кучинський, А., Кременицький , В., & Сперкач , С. (2023). ЗАСТОСУВАННЯ МЕТОДУ СКАНУЮЧОЇ ЕЛЕКТРОННОЇ МІКРОСКОПІЇ ПРИ ВИЗНАЧЕННІ ХІМІЧНОГО СКЛАДУ, СТРУКТУРИ ТА ТОПОГРАФІЇ ПОВЕРХНІ КОМПОЗИТНИХ МАТЕРІАЛІВ ФРАГМЕНТІВ КРИЛАТИХ РАКЕТ ВИРОБНИЦТВА РОСІЙСЬКОЇ ФЕДЕРАЦІЇ. Озброєння та військова техніка, 39(3), 36–48. https://doi.org/10.34169/2414-0651.2023.3(39).36-48

Номер

Розділ

РАКЕТНІ КОМПЛЕКСИ

Статті цього автора (авторів), які найбільше читають

1 2 3 > >> 

Схожі статті

1 2 3 4 5 6 7 8 > >> 

Ви також можете розпочати розширений пошук схожих статей для цієї статті.

Loading...