ЗАСТОСУВАННЯ МЕТОДУ СКАНУЮЧОЇ ЕЛЕКТРОННОЇ МІКРОСКОПІЇ ПРИ ВИЗНАЧЕННІ ХІМІЧНОГО СКЛАДУ, СТРУКТУРИ ТА ТОПОГРАФІЇ ПОВЕРХНІ КОМПОЗИТНИХ МАТЕРІАЛІВ ФРАГМЕНТІВ КРИЛАТИХ РАКЕТ ВИРОБНИЦТВА РОСІЙСЬКОЇ ФЕДЕРАЦІЇ
DOI:
https://doi.org/10.34169/2414-0651.2023.3(39).36-48Ключові слова:
композитні матеріали, крилаті ракети, рентгенівський мікроаналіз, склад матеріалу, структура, топографія поверхніАнотація
У статті представлено аналіз сучасних композитних матеріалів, що застосовуються при створенні ракетного озброєння та результати застосування методу скануючої електронної мікроскопії під час дослідження хімічного складу, структури та топографії поверхні композитних матеріалів фрагментів крилатих ракет виробництва російської федерації. Зокрема, фрагментів крила ракети, фрагментів покриттів корпусу, передньої кромки крила, носового обтічника крилатої ракети.
Завантаження
Посилання
Вашуков Ю.А. Технология ракетных и аэрокосмических конструкций из композитных материалов. Мультимедийный образовательный модуль. [Электронный ресурс]. Минобрнауки росиии. Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева (Нац. исслед. ун-т). Самара. 2012. Электрон. текстовые и граф. дан. (3766 Кбайт, печатный аналог 185 с.).
Буланов И.М., Воробей В.В. Технология ракетных и аэрокосмических конструкций из композиционных материалов: пособие для вузов. М.: МГТУ им. Э. Баумана. 1998. 516 с.
Технология изготовления обтекателей из композиционных материалов / В.В. Василенко, Я.С. Карпов, С.П. Кривенда, М.Ю. Русин, М.А. Шевцова. Учеб. пособ. Харьков: Нац. аэрокосм. ун-т «Харьк. авиац. ин-т». 2005. 48 с.
Ідентифікація країни походження безпілотних літальних апаратів на підставі аналізу елементної бази за методом сканівної електронної мікроскопії / Богданов В.Л., Григоренко О.Я., Чепков І.Б., Одноралов І.В., Кременицький В.В., Сперкач С.О. Озброєння та військова техніка. 2023. № 1(37). С. 57—62. https://doi.org/1034169/2414-0651.2023.1(37).57-62.
Аналіз фізико-хімічних властивостей металевих фрагментів корпусів артилерійських снарядів на основі експериментального підходу / Богданов В.Л., О.Я. Григоренко, І.Б. Чепков, І. В. Одноралов, В.В. Кременицький, С.О. Сперкач, Трачевський В.В. Озброєння та військова техніка. 2022. № 1(33). С. 43—56. https://doi.org/1034169/2414-0651.2022.1(33).43-56.
Kirkland, Earl. (2010). Advanced computing in electron microscopy. New York: Springer. 287 p. DOI: https://doi.org/10.1007/978-1-4419-6533-2
Georg, Frosch. (2003). Microanalysis with EDS, WDS & EBSD Possibilities and Restrictions Oxford Instruments Analytical.
Downloads
Опубліковано
Як цитувати
Номер
Розділ
Ліцензія
Авторське право (c) 2023 В’ячеслав Богданов,Олександр Григоренко ,Ігор Чепков,Ігор Одноралов,Андрій Кучинський,Валерій Кременицький ,Світлана Сперкач

Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution 4.0 International License.