Ідентифікація країни походження безпілотних літальних апаратів на підставі аналізу елементної бази за методом сканівної електронної мікроскопії

Автор(и)
DOI:
https://doi.org/10.34169/2414-0651.2023.1(37).57-62
Ключові слова:
Array, Array, Array, Array
Анотація

У статті представлено результати дослідження методом растрової електронної мікроскопії мікроструктурних характеристик припоїв, що були використані під час виготовлення електронних компонентів крилатих ракет Х-101, 3М-14 комплексу «Калібр», зенітної ракети комплексу С-300, БПЛА «Герань-2» та електроніки цивільного призначення, виготовленої в ісламській республіці Іран з метою ідентифікації країни походження ударних безпілотних літальних апаратів.

Наведено аналіз результатів складових елементів фрагментів електронних компонентів, виготовлених із різних за походженням матеріалів, отриманих в ході апаратних досліджень із застосуванням скануючого електронного мікроскопу JSM-6490LV з енергодисперсійним спектрометром INKA Energy 350ХТ.

Біографії авторів
  1. автор В’ячеслав Богданов, афіліація Інститут механіки ім. С.П. Тимошенка НАН України

    академік НАН України, доктор фізико-математичних наук НАН України

  2. автор Олександр Григоренко , афіліація Інститут механіки ім. С.П. Тимошенка НАН України

    член-кореспондент НАН України, доктор фізико-математичних наук

  3. автор Ігор Чепков , афіліація Центральний науково-дослідний інститут озброєння та військової техніки Збройних Сил України

    доктор технічних наук, професор

  4. автор Ігор Одноралов, афіліація Центральний науково-дослідний інститут озброєння та військової техніки Збройних Сил України

    доктор технічних наук, старший науковий співробітник

  5. автор Валерій Кременицький , афіліація Технічний центр НАН України

    кандидат фізико-математичних наук

  6. автор Світлана Сперкач , афіліація Технічний центр НАН України

    кандидат фізико-математичних наук

Посилання

Богданов В.Л., Григоренко О.Я., Чепков І.Б., Одноралов І.В., Кременицький В.В., Сперкач С.О., Трачевський В.С. Аналіз фізико-хімічних властивостей металевих фрагментів корпусів артилерійських снарядів на основі експериментального підходу. Озброєння та військова техніка. 2022. № 1(33). С. 43—56. https://doi.org/1034169/2414-0651.2022.1(33).43-56.

Черепин В.Т., Васильев М.А. Методы и приборы для анализа поверхности материалов. Справочник. Киев: Наукова думка. 1982.

Шиммель Г. Методика электронной микроскопии. М.: Мир. 1972.

Голдстейн Дж., Ньюбери Д. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. М.: Мир. 1984. 303 с.

Weilie Zhou. (2006). Scanning Microscopy for Nanotechnology (Techniques and Applications). Weilie Zhou (ed.) Zhong Lin Wang (Ed.) Springer. 522 p.

Брандон Д., Каплан У. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля. М.: Техносфера. 2004. 384 с.

Georg Frosch. (2003). Microanalysis with EDS, WDS & EBSD Possibilities and Restrictions Oxford Instruments Analytical.

Kirkland, Earl. (2010). Advanced computing in electron microscopy. New York: Springer. 289 р. DOI: https://doi.org/10.1007/978-1-4419-6533-2

Cover Image
Завантаження
Опубліковано
31.03.2023
Номер
Том 37 № 1 (2023): Озброєння та військова техніка
Розділ
БЕЗПІЛОТНІ АВІАЦІЙНІ КОМПЛЕКСИ
Ліцензія

Авторське право (c) 2023 В’ячеслав Богданов,Олександр Григоренко ,Ігор Чепков ,Ігор Одноралов,Валерій Кременицький ,Світлана Сперкач

Creative Commons License

Ця робота ліцензується відповідно до ліцензії Creative Commons Attribution 4.0 International License.

Як цитувати

Ідентифікація країни походження безпілотних літальних апаратів на підставі аналізу елементної бази за методом сканівної електронної мікроскопії. (2023). Озброєння та військова техніка, 37(1), 57-62. https://doi.org/10.34169/2414-0651.2023.1(37).57-62

Статті цього автора (цих авторів), які найбільше читають

1 2 3 > >>