Результати застосування методу скануючої електронної мікроскопії при дослідженні  хімічного складу, структури та топології матеріалів маскувального комплекту бойових броньованих машин «Накидка»

В’ячеслав Богданов; Олександр Григоренко; Ігор Чепков; Ігор Одноралов; Андрій Кучинський; Валерій Кременицький; Світлана Сперкач

doi:10.34169/2414-0651.2025.3(47).19-26

Результати застосування методу скануючої електронної мікроскопії при дослідженні хімічного складу, структури та топології матеріалів маскувального комплекту бойових броньованих машин «Накидка»

Автор(и)

В’ячеслав Богданов Інститут механіки ім. С.П. Тимошенка НАН України
Олександр Григоренко Інститут механіки ім. С.П. Тимошенка НАН України м. Київ
Ігор Чепков Центральний науково-дослідний інститут озброєння та військової техніки Збройних Сил України
Ігор Одноралов Центральний науково-дослідний інститут озброєння та військової техніки Збройних Сил України
Андрій Кучинський Центральний науково-дослідний інститут озброєння та військової техніки Збройних Сил України
Валерій Кременицький Технічний центр НАН України
Світлана Сперкач Технічний центр НАН України

DOI:

https://doi.org/10.34169/2414-0651.2025.3(47).19-26

Ключові слова:

бойові броньовані машини, маскувальні покриття, засоби зниження помітності, рентгенівський мікроаналіз, склад матеріалу, структура, топографія поверхні

Анотація

У статті представлено результати дослідження хімічного складу структури та топології матеріалів маскувального комплекту бойових броньованих машин «накидка» із застосуванням методу скануючої електронної мікроскопії. Результати отримані під час проведення апаратних досліджень із застосуванням рентгенівського мікроаналізатору JXA-8200 виробництва JEOL Ltd (Японія) та скануючого електронного мікроскопу JSM-6490LV з енергодисперсійним спектрометром INKA Energy 350ХТ.

Дослідження проводились з метою формування інформаційної бази для ідентифікації та розроблення алгоритмів виявлення бойових броньованих машин, оснащених засобами зниження їх помітності.

Завантаження

Дані завантаження ще не доступні.

Біографії авторів

В’ячеслав Богданов, Інститут механіки ім. С.П. Тимошенка НАН України

академік НАН України, доктор фізико-математичних наук

Олександр Григоренко, Інститут механіки ім. С.П. Тимошенка НАН України м. Київ

член-кореспондент НАН України, доктор фізико-математичних наук, професор

Ігор Чепков, Центральний науково-дослідний інститут озброєння та військової техніки Збройних Сил України

член-кореспондент НАН України, доктор технічних наук, професор

Ігор Одноралов, Центральний науково-дослідний інститут озброєння та військової техніки Збройних Сил України

доктор технічних наук

Андрій Кучинський, Центральний науково-дослідний інститут озброєння та військової техніки Збройних Сил України

кандидат технічних наук, старший науковий співробітник, докторант

Світлана Сперкач, Технічний центр НАН України

кандидат фізико-математичних наук

Посилання

Богданов, В., Григоренко , О., Чепков , І., Одноралов, І., Кременицький , В., & Сперкач , С. (2023). Ідентифікація країни походження безпілотних літальних апаратів на підставі аналізу елементної бази за методом сканівної електронної мікроскопії. Озброєння та військова техніка, 37(1), 57–62. https://doi.org/10.34169/2414-0651.2023.1(37).57-62

Богданов, В., Григоренко , О., Чепков, І., Одноралов, І., Кременицький , В., Сперкач , С., & Трачевський , В. (2022). АНАЛІЗ ФІЗИКО-ХІМІЧНИХ ВЛАСТИВОСТЕЙ МЕТАЛЕВИХ ФРАГМЕНТІВ КОРПУСІВ АРТИЛЕРІЙСЬКИХ СНАРЯДІВ НА ОСНОВІ ЕКСПЕРИМЕНТАЛЬНОГО ПІДХОДУ. Озброєння та військова техніка, 33(1), 43–56.

https://doi.org/10.34169/2414-0651.2022.1(33).43-56

Богданов, В., Григоренко , О., Чепков, І., Одноралов, І., Кучинський, А., Кременицький , В., & Сперкач , С. (2023). ЗАСТОСУВАННЯ МЕТОДУ СКАНУЮЧОЇ ЕЛЕКТРОННОЇ МІКРОСКОПІЇ ПРИ ВИЗНАЧЕННІ ХІМІЧНОГО СКЛАДУ МЕТАЛЕВИХ ФРАГМЕНТІВ КРИЛАТИХ ТА АВІАЦІЙНИХ РАКЕТ ВИРОБНИЦТВА РОСІЙСЬКОЇ ФЕДЕРАЦІЇ . Озброєння та військова техніка, 38(2), 18–25.

https://doi.org/10.34169/2414-0651.2023.2(38).18-25

Богданов, В., Григоренко , О., Чепков, І., Одноралов, І., Кучинський, А., Кременицький , В., & Сперкач , С. (2023). ЗАСТОСУВАННЯ МЕТОДУ СКАНУЮЧОЇ ЕЛЕКТРОННОЇ МІКРОСКОПІЇ ПРИ ВИЗНАЧЕННІ ХІМІЧНОГО СКЛАДУ, СТРУКТУРИ ТА ТОПОГРАФІЇ ПОВЕРХНІ КОМПОЗИТНИХ МАТЕРІАЛІВ ФРАГМЕНТІВ КРИЛАТИХ РАКЕТ ВИРОБНИЦТВА РОСІЙСЬКОЇ ФЕДЕРАЦІЇ. Озброєння та військова техніка, 39(3), 36–48. https://doi.org/10.34169/2414-0651.2023.3(39).36-48

Голдстейн Дж., Ньюбери Д. Растровая Электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. М.: Мир. 1984. 303 с.

Weilie, Zhou. Scanning Microscopy for Nanotechnology (Techniques and Applications). Weilie Zhou (Ed.) & Zhong Lin Wang (Ed.). Springer. 2006. 522 p.

Dual-band dynamically compatible stealth: Infrared modulation and visible camouflage based on carbon nanotubes. J. of Alloys and Compounds. Advance online publication. https://doi.org/10.1016/j.jallcom.2025.179525

Lan, H., Ge, J., Li, D., Zhang, Y., Wei, Z., Zhou, Y., Chen, S., Chang, H. & Pan, A. (2025). Transparent and tunable radar-infrared bi-stealth metamaterial based on water and metallic mesh for optical window applications. Advanced Functional Materials. Advance online publication. https://doi.org/10.1002/adfm.202504959.