1.
Богданов В, Григоренко О, Чепков І, Одноралов І, Кучинський А, Кременицький В, et al. ЗАСТОСУВАННЯ МЕТОДУ СКАНУЮЧОЇ ЕЛЕКТРОННОЇ МІКРОСКОПІЇ ПРИ ВИЗНАЧЕННІ ХІМІЧНОГО СКЛАДУ, СТРУКТУРИ ТА ТОПОГРАФІЇ ПОВЕРХНІ КОМПОЗИТНИХ МАТЕРІАЛІВ ФРАГМЕНТІВ КРИЛАТИХ РАКЕТ ВИРОБНИЦТВА РОСІЙСЬКОЇ ФЕДЕРАЦІЇ. ОВТ [інтернет]. 30, Вересень 2023 [цит. за 05, Березень 2026];39(3):36-48. доступний у: https://journal.cndiovt.com.ua/index.php/ovt/article/view/748