Богданов, В.; Григоренко , О.; Чепков, І.; Одноралов, І.; Кучинський, А.; Кременицький , В.; Сперкач , С. ЗАСТОСУВАННЯ МЕТОДУ СКАНУЮЧОЇ ЕЛЕКТРОННОЇ МІКРОСКОПІЇ ПРИ ВИЗНАЧЕННІ ХІМІЧНОГО СКЛАДУ, СТРУКТУРИ ТА ТОПОГРАФІЇ ПОВЕРХНІ КОМПОЗИТНИХ МАТЕРІАЛІВ ФРАГМЕНТІВ КРИЛАТИХ РАКЕТ ВИРОБНИЦТВА РОСІЙСЬКОЇ ФЕДЕРАЦІЇ. ОВТ 2023, 39, 36-48.